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影响漆膜仪测量精度的因素
发布时间:2019-12-21 14:58浏览次数:
       漆膜仪也叫涂层测厚仪,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,当仪器受到一些自身和外界因素的影响,测量会受到严重的干扰,下面来看看有哪些因素影响着测量的精确度。
 
1、磁场的影响:周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作,外界恒磁场、电磁场和基体剩磁应该避免在有干扰作用的外界磁场附近进行测量,残存的磁场,根据检测器的性能可能导致或多或少的测量误差。
2、表面粗糙度的影响:基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响,软覆盖层试件在测量中可能会变形,因此也会影响精度,基体金属和覆盖层的表面粗糙程度越大,对测量精度的影响也就越大。
3、测头压力的影响:测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定,并应尽可能小,才不致使软的覆层发生形变,以致测量值下降。
4、基体金属电磁性质的影响:
      ①磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响,为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准,也可以用待涂覆试件进行校准。
      ②基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关,使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
5、试件变形对测量的影响:测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
6、边缘效应的影响:测厚仪器对试件表面形状的陡变敏感,因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
7、附着物的影响:仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
8、测头放置方式及压力的影响:测头的放置方式对测量也是有影响的,在测量过程中,应当使测头与试样表面保持垂直,从而进行测量,测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。  
9、试件曲率对测量的影响:试件曲率对测量的影响总是随着曲率半径的减少明显地增大,因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
10、基体金属厚度的影响:每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度,测厚测量也受基体金属厚度的影响。
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